電子元器件產品在研制、生產等過程中會因各種原因產生缺陷,而產品的可靠性工程可通過功能性能驗證、環境應力、機械應力等試驗排查或激發產品的某些潛在缺陷,避免后續使用中出現不可逆轉的失效。其中,溫度沖擊試驗(Temperature ramp >10℃/min)能夠使電子元器件在特定溫度的快速變化中,暴露出器件在弱于特定溫度變化條件下會出現的潛在缺陷,使產品的可靠性更接近實際需要,從而保證和提高電子產品的可靠性。
溫度沖擊試驗主要考察產品在使用過程中因蠕變或疲勞損傷而引起的失效,以及驗證產品在定型或鑒定批產階段對溫度沖擊環境的適應性;此外,在產品研制階段還可幫助發現產品設計和制造工藝上的缺陷,在批產階段的環境應力篩選過程中(ESS),剔除產品的早期失效故障。
不同介質下的溫度沖擊試驗
在GB/T 2423.22-2012溫度變化試驗中,均列出了以空氣-空氣、液體-液體為介質的溫度沖擊試驗,而溫度沖擊試驗的考慮因素主要有暴露條件(試驗溫度,即高溫、低溫)、高低溫持續時間、轉換時間、溫度變化速率、相對濕度等,顯然使用液體作為介質進行的溫度沖擊試驗更加嚴酷。
隨著器件工藝的發展迭代,材料性能不斷地改進,器件所能承受的溫變能力明顯提升,另一方面,現代電子裝備對元器件或零件的可靠性提出了更高的要求。傳統的空氣-空氣溫度沖擊對器件的深度潛在缺陷或環境適應性驗證過程中面臨著諸多痛點:
1、試驗溫度未到使用環境的極限,不能激發出更多的潛在缺陷;
2、溫度沖擊過程中產品溫度不均勻,產品內部可能形成較大的溫度梯度;
3、轉換時間仍不能達到溫度劇烈變化的程度;
4、冷熱交替時,溫度補償不足,影響試驗結果有效性。
廣電計量解決方案:
廣電計量引進日本HITACHI的液冷式溫度沖擊設備,以熱媒液(氟油)作為傳遞溫度的介質。該液體具備*的熱穩定性、高導熱能力、不易揮發、無色無毒、化學惰性等性能,能夠有效解決溫度沖擊過程中可能存在溫度不均勻的問題,且溫度區間相較于氣體媒介的更大,對試驗產品內部能實現更充分的溫度擴散,能夠篩選出性能可靠性更高的產品。
低溫區 | (-70~0)℃ |
高溫區 | (70~150)℃ |
轉換時間 | 10s(<1min) |
停留時間 | 1s~99min59s |
溫度精度 | ±2℃ |
試樣籠尺寸(mm) | 185*200*150 |
適用標準 | GB/T 2423.22 試驗方法Nc、GJB 548B 方法1011.1、JB 360B 方法107、MIL-STD-202方法107、MIL-STD-883方法1011.9、JIS C 0025-1988等 |
圖1.液態溫度沖擊設備
圖2.試驗曲線
廣電計量擁有一支經驗豐富的可靠性驗證技術開發、試驗、失效分析團隊,服務領域涵蓋汽車、軌道交通、航空航天等產業,可根據產品的應用環境和技術指標來開發定制化的可靠性驗證方案及失效分析方案,專業、高效地協助客戶加速完成產品開發、升級和驗證。